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少子壽命測試

設(shè)備:外延片少子壽命測試儀WT-2000 Wafer Test System

廠商:匈牙利 SEMILAB

用途:1.厚外延少子壽命測試2.SiC電阻率測試

技術(shù)指標(biāo):少子壽命測試要求外延厚度>30um;規(guī)則樣品寬度>10mm                    可以點(diǎn)測或連續(xù)面測


  • 地址:廣東省東莞市松山湖國家高新區(qū)總部一號12棟5樓

  • 電話:0769-33882377

  • 郵箱:nfjc@cwbg-nf.com

  • 傳真:0769-23078230

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